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冲击试样缺口测量新突破
点击次数:1078 发布时间:2018-06-12

冲击试样缺口新突破

概述

冲击试验将冲击试验缺口的尺寸要求非常严格,微小的变化,都会引起试验结果出现误差,为了确保将冲击试验缺口制样合格,缺口检验尤其重要,也是目前主要的检测方法,目前市面上大多用于光学放大镜,模板对比的方式,通过投影,将试样投影到模板上,再通过人工调节,对比,判断边缘来确定缺口是否合格,这种方式弊端很多,1、光,采用的传统卤素灯照明,光照不是平行光,这样会对试样造成不必要的阴影,这样会影像人为的判断,使测量结果出现偏差,尤其是再遇到合格与否的试样,更难以保证测量结果的准确性。2、人为判断缺口边缘,每个人判断的方式都有差异,100个人检测会出现100个结果,这样检测结果人为因素很严重。3、效率慢,试样摆放要通过人为去调整,试样测量时必须呈水平,否则影像测量结果,前后左右上下的调整,使测量费时、费力效率低。4、测量结果只能是大概,通过人为判断,结果不能保存起来,不变以后对试样的复查,尤其是仲裁时,无法提供检测数据以及说明。

例如对夏比冲击V型缺口试样来说,GB/T229-2007《金属材料 夏比摆锤冲击试验方法》、ISO 148-1 2009《金属材料夏比摆锤冲击试验机 第1部分:试验方法》中要求,V型缺口深度2mm加工偏差范围是±0.075,缺口角度为45°加工偏差为±2°,缺口底部半径0.25mm加工偏差为0.025mm这样的偏差范围用肉眼去判断是很难做到了,肉眼判断0.1mm的误差都非常吃力,更不用说0.025等误差了。美标更严格。

TOP-AMIG一键冲击缺口测量分析仪,是我公司根据广大用户的实际需求盒按照GB/T229-2007《金属材料 夏比摆锤冲击试验方法》、ISO 148-1 2009《金属材料夏比摆锤冲击试验机 第1部分:试验方法》、ASTM E23新研发的专用与夏比V型U型缺口加工检验的设备“一键冲击缺口测量分析仪”测量缺口只需2部就可以完成,步:将试样放到试样台上(测量视场范围内),第二部:点击测量按钮,测量结果瞬间得出。

原理

该测量仪利用光学拍摄的方法,将冲击试验V型U型缺口全貌采集到显示器上,本测量仪采用专用的千万像素专用相机及镜头以及机器视觉专用的平行光源,对试样垂直照射,不会对试样造成任何阴影,使缺轮廓清晰的显示出来,通过离析像素技术,准确自动判定缺口边缘,对缺口测量。

特点

该测量仪,利用光学图像技术将被测冲击试样V型U型缺口通过千万像素的相机及镜头,将图像采集到显示器上,再通过我公司专用软件的离析像素金属测量缺口尺寸。

测量缺口尺寸只需2部完成,部,将试样放到试样台上,第二部点击测量按钮进行测量,瞬间得出数据。主要的是试样的摆放无需水平、垂直,只要将被测部分放到视场范围内,随意摆放均可。离析像素技术自动判断,没有任何人为因素,100个人测量得出的结果只有1中。

技术参数

测量视场:10*10mm

测量精度:0.01mm

测量分辨率:0.001mm

工作台尺寸:100*100

光源:机器视觉平行光源

相机及镜头:1000万像素

测量方式:一件测量

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